(C) TSE Co., Ltd.
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MEMS 입자 모양 및 도킹 메커니즘을 이용해 소켓 성능 개선
SI/PI 시뮬레이션 및 측정을 이용해 소켓 특성 개선
Cres. / 유출
Cres. / 스트로크 측정
안정성 및 내구성
100um 초과 미세 포고 핀 적용
Improve the surface roughness to minimize Sn migration