FAQ

DC성분이 필요한 test 환경에는 모두 적용 가능합니다.

현재 반도체 package test 및 wafer test용으로 setup 되어 있으며 PCB, Probe Card, SIP, Strip test 등 다양한 application에서 사용하고 있습니다.

TDMS-1000은 최대 3072Ch. TDMS-2000은 최대 4096Ch. 입니다.

TDMS-1000은 1개의 SMU를 가지고 있어 순차 테스트만 가능하지만 TDMS-2000은 최대 64개의 SMU가 동시 동작할 수 있습니다.

즉, TDMS-2000은 더 많은 채널을 더 빠른 속도로 테스트할 수 있도록 

업그레이드 된 장비입니다.

TSE manipulator는 semi auto 방식으로 서 사용자가 손쉽게 작동 할 수 있으며 사고 방지를 한 장치가 되어 있기 때문에 작업환경에서의 안전을 보장 합니다.