DSA INTERFACE SOLUTION

Key Features

Test Device DDR4, DDR5, LPDDR4, LPDDR5, GDDR5, GDDR6, NAND FLASH, MCP, UFS, S5E, etc.
High Speed Signal Integrity capability Up to 24Gbps
Low power Integrity capability Low Impedance & IR Drop
Fine pitch PCB Design & manufacturing capability Up to 0.2mm pitch
High parallelism expansion capability Up to 960para

고용량·고속인 모바일 D램, PC D램, 그래픽 D램, UFS 등 메모리 반도체를 테스트하려면 첨단 기술을 갖춘 테스트 인터페이스 솔루션이 필요합니다.

TSE의 인터페이스 솔루션은 고속, 저소음, 안정적인 신호 전송 특성을 지원하며, 특히 Fine Pitch PCB 기술의 융합은 High Parallelism 구현을 통해
더 높은 가치를 제공하여 테스트 속도와 생산성을 향상시킵니다.

Product Line-up

Magnum EPIC DSA Magnum V(UPBX) DSA Magnum V(UPBY) DSA
LPDDR4/4X/5, GDDR6 NAND FLASH, UFS, S5E UFS4.0, S6E
Up to 9Gbps Up to 16Gbps
(Digital Ch. 1.6Gbps)
Up to 23.4Gbps
(Digital Ch. 1.6Gbps)
Up to 512para
(TW-350HT, STH5700)
Up to 768para
(TW-350HT, TW-S7, STH5xxx, M550HT)
Up to 768para
(TW-350HT, TW-S7, STH5xxx)
Magnum 7 DSA T5503HS DSA T5832/T5833 DSA
NAND FLASH, LPDDR5 DDR4, LPDDR4/4X NAND FLASH, DDR4, LPDDR4
Up to 5Gbps Up to 4.5Gbps Up to 2.8Gbps
(2.4Gbps @ T5833)
Up to 384para
(TW-350HT, TW-S7, STH5xxx)
Up to 512para
(M6242, STH5700)
Up to 768para
(M6242, STH5700)

TOP